全新题目
【题目难度 | 中等】※※※
【编程题目 |200分】出错的或电路【2022 Q1,Q2考试题】
时间限制:C/C++ 1秒,其他语言 2秒
空间限制:C/C++262144K,其他语言524288K
64bit IO Format:%lld
本题可使用本地IDE编码,不能使用本地已有代码,无跳出限制,
编码后请点击”保存并调试“按钮进行代码提交。
■ 题目描述
【出错的或电路】
某生产门电路的厂商发现某一批次的或门电路不稳定,具体现象为计算两个二进制数的或操作时,第一个二进制数中某两个比特位会出现交换,
交换的比特位置是随机的,但只交换这两个位,其他位不变。
很明显,这个交换可能会影响最终的或结果,也可能不会有影响。
为了评估影响和定位出错的根因,工程师需要研究在各种交换的可能下,最终的或结果发生改变的情况有多少种。
输入描述:
第一行有一个正整数N;其中1≤N≤1000000。
第二行有一个长为N的二进制数,表示与电路的第一个输入数,即会发生比特交换的输入数。
第三行有一个长为N的二进制数,表示与电路的第二个输入数。注意第二个输入数不会发生比特交换。
输出描述:
输出只有一个整数,表示会影响或结果的交换方案个数。
示例1 输入输出示例仅供调试,后台判题数据一般不包含示例
输入
3
010
110
输出
1
说明
原本010和110的或结果是110,但第一个输入数可能会发生如下三种交换:
1.交换第1个比特和第2个比特,第一个输入数变为100,计算结果为110,计算结果不变
2.交换第1个比特和第3个比特,第一个输入数变为010,计算结果为110,计算结果不变
3.交换第2个比特和第3个比特,第一个输入数变为001,计算结果为111,计算结果改变
故只有一种交换会改变计算结果。
代码实现
C++
#include <bits/stdc++.h> using namespace std;
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import java.util.ArrayList; import java.util.List; import java.util.Scanner; public class Main { public static void main(String[] args) { Scanner sc = new Scanner(System.in); int n = sc.nextInt();
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let n = Number(readLine()); let s1 = readLine(); let s2 = readLine();
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n = int(input()) line1 = input() line2 = input()
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